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集创赛由工信部主办，教育部官方认可的最具含金量及参赛价值的赛事之一，
针对全国本科和职业院校，是目前集成电路方向针对国内高校最具规模和影响力的比赛。
雨骤杯设备“大学计划价格”租借申请表:
具体申请细节请见下方平台介绍部分。
作为“片上仪器”全球领导者，
雨骤科技(恩捷伦®中国)
倾情支持本届赛事
快来夺取集成电路圈
“ 宇宙(雨骤)最强奖杯! ”
燃烧你的小宇宙吧！
YuZhou Cup
报名链接
PC端报名入口(请选择“雨骤杯”)：
http://univ.ciciec.com/col.jsp?id=211
官网雨骤杯赛题链接
http://univ.ciciec.com/nd.jsp?id=728#_jcp=1
报名雨骤杯——你将得到
抓住“智能硬件+芯片测试”风口，积累实战项目经历
“雨骤(恩捷伦®)杯”赛题紧扣当下“真实智能硬件开发”及“集成电路测试”应用场景。每一组队伍都能亲自上手领先的工业级“智能软硬件“，积累实战项目经验。
从“摸鱼“到”深度摸鱼“到”专家“循序渐进的培训体验(关注我们，参加后续培训)
“雨骤(恩捷伦®)杯”赛题按照由浅入深、由易到难的阶梯式设计规划了从“初赛”、“分赛区决赛”到“全国总决赛”各个阶段的考核内容，赛题相对开放，并且配套有从“入门“到”进阶“手把手培训，让”小白“从”摸鱼“开始进入”摸鱼深水区“，当然为了捧杯，必须进入“专家级摸鱼”状态。无论是否得奖都将得到盖章认证培训证书。
获得实习和就业岗位机会
参与雨骤(恩捷伦®)杯的同学们不光能够在软硬件能力及工具掌握度上有相当的提升，更能够获得直通加入“雨骤科技(恩捷伦®)“及生态合作伙伴的机会。为职业生涯开启无限可能。
报名时间
2024年1月5日 0:00 —— 2024年3月19日 23:59
2024雨骤(恩捷伦®)杯赛题名称
基于“雨珠系列片上仪器”构建自主可控DAC测试及应用系统
参赛组别
仅限A组
赛题内容
2024年全国大学生集成电路创新创业大赛—— “雨骤杯”由全球“片上仪器”引领者雨骤科技(中国)有限公司领衔支持，致力于将最前沿的IOC（Instruments on Chip）片上仪器技术与智能硬件相结合，将工业界先进的“芯片+软件即仪器”理念带给每一个参赛团队。
概述：基于雨骤片上仪器平台的模拟与数字I/O为核心，借助灵活开放的API、 “自定义RTL片上仪器”模块搭配自选的外设传感器，执行器等外部模块，设计具有“输入数据采集”，“信号分析/处理”，“执行输出/显示”的智能硬件系统，并从外设传感器/执行器中自选任一核心芯片（模拟IC, 数字IC，数模混合IC等）配套设计并实现该芯片的自动化功能/故障检测及性能测试系统，以验证该核心集成电路的有效性，在外设核心芯片出现故障时能及时排查并及时替换，恢复整个智能硬件系统的有效性，减少系统宕机时间，提升系统可靠性。
要求智能硬件设计部分以雨骤片上仪器平台为核心（避免使用其他嵌入式处理器含进口处理器），设计部分的传感器和执行器外部模块无以上限制。要求充分使用片上仪器平台的模拟与数字I/O。
要求智能硬件的核心芯片测试部分必须充分利用雨骤“IOC片上仪器”的模拟以及数字I/O，可以选择使用片上仪器上位机API或者选择使用“自定义RTL模块”来完成对芯片的自动化功能/故障检测及性能测试。可根据作品需要酌情使用“雨骤云编译”模块，USB hub扩展模块等。所实现的作品具有创新性，实用性以及一定的市场应用场景与创业价值。
杯赛不同阶段具体要求
初赛阶段（纯软件仿真及文字方案提交，硬件非必须）：
模拟真实行业场景一：甲方在最终遴选出合适的“DAC测试与应用”中标单位（优胜单位）之前，希望通过技术资质背景认证筛选出对于DAC原理、测试及应用有一定技术积累的单位进入下一轮。要求参与单位提交: 1. 一套基于电路仿真软件验证过的DAC仿真原理图及仿真结果（可使用任何基于SPICE及其变种的仿真软件） 2. 一份结合雨骤片上仪器平台的（雨珠Raindrop Model-X，Model-S，或Model-3系列）国产DAC芯片测试方案及DAC创新应用计划书。可将如何连接雨珠片上仪器接口及DAC的原理图一并列出。
分赛区决赛阶段（软硬件系统实现）：
模拟真实行业场景二：将第一阶段提交的理论测试方案进行真实软硬件实现，完成国产DAC对比测试及基于DAC和片上仪器的创新创业应用，包括不限于：信号发生器、任意波形发生器、音频/视频处理、电源管理系统、动态系统仿真等。可以使用雨骤雨珠系列片上仪器平台的软件API（C、Python文本化API或LabVIEW图形化API或两者相结合）完成DAC通用参数测试。可以使用片上仪器平台的“RTL自定义仪器”模块配合“雨骤云编译”完成DAC测试的数字接口设计及测试逻辑“片上化”, 并最大程度实现自动化测试流程。可以使用雨骤雨珠片上仪器平台的软件API（C、Python文本化API或LabVIEW图形化API或两者相结合）及所选国产DAC实现基于上位机的智能应用。可以使用片上仪器平台的“RTL自定义”模块、“雨骤云编译”实现更丰富的应用。
模拟真实行业场景三：在分赛区决赛的基础上，进一步完善DAC芯片测试及创新应用系统，将实际作品提交最终竞标。雨珠Raindrop片上仪器平台系列均采用模块化设计，全国总决赛要求参赛队自制待测件（即包含待测DAC芯片的待测件DUT）负载板（Load Board），团队结合片上仪器平台完成一体化芯片测试。杯赛组委会/甲方提供负载板统一规格及接口要求（30pin DIP或26pin TouchPad 或180pin PCI）
提交内容要求
测试及应用部分的展示图片、展示视频及对应创新创业内容文档等归档清晰，完整。
提交的详细技术相关文件及内容
1.系统原理图（初赛时需要提交与决赛拟选择DAC原理类似的DAC设计仿真原理图及仿真输出结果）
2.软硬件代码（上位机软件代码及RTL coding）
3.仿真及测试结果情况数据
4.现场答辩及演示实际结果
5.系统技术方案说明书
评分规则
| 内容 | 分值 | 评分依据 |
1. 完成基于“Raindrop雨珠系列” （不限型号）片上仪器的DAC测试系统开发 | 25分 | 针对自行选择的国产DAC芯片，使用Raindrop系列片上仪器（型号不限），来进行芯片有效性验证及性能测试。测试性能指标必需要包括线性精度，主要有两个参数：积分(INL)和差分(DNL)非线性。 充分利用雨骤雨珠片上仪器”的模拟以及数字I/O 是否具有良好的人机GUI交互 是否采用自动化无干预测试流程完成所有功能及性能测试 是否采用了自定义测试IP 初赛时需提供同类型选型DAC芯片的原理仿真文件及仿真输出结果 |
2. 完成结合“Raindrop雨珠系列”（不限型号）及上述自选DAC优势的创新应用系统开发 | 25分 | 以”Raindrop雨珠” 片上仪器（型号不限）为系统核心，未使用其他处理器/嵌入式处理器（一台个人电脑用于显示除外） 是否充分使用了片上仪器平台的模拟I/O及数字I/O 是否具有良好的人机交互GUI 是否充分结合了所选国产DAC的特色优势，相对进口DAC是否有应用优势 是否使用了自定义IP使得应用方案具有综合价值和优势 |
3. DAC测试及应用功能及一体化实现 | 20分 | 是否遵循Raindrop雨珠片上仪器平台接口规范自主设计外设载板（Load board）（30pin DIP或26pin TouchPad或180pin PCI） 是否包含一体化PCB载板而非简易面包板 是否将测试载板与应用载板进行一定程度的融合/复用 是否使用了丰富的SDK API接口等功能 |
4．设计工程归档专业度，配套展示视频、图文、工程项目代码 | 10分 | 详实规范的设计文档、含视频、工程文件、图文描述 是否开源设计 |
5. 答辩和现场演示 | 20分 | 现场答辩和问答表现 现场系统各项功能展示效果 |
雨骤（恩捷伦®）杯本届参赛平台
雨珠Model-3
雨珠Model-S
雨珠Model-X等雨骤平台
为最大程度激发与释放参赛团队的创新创业灵感，同时确保赛事的公平公正性，雨骤科技为同学们免费提供的是“Raindrop-3”（雨珠3），“Raindrop-S”（雨珠S），“Raindrop-X”（雨珠X）等标准模块化智能片上仪器平台，其简要特点如下：
- 全球片上虚拟仪器领导品牌，将工业技术贯穿应用始终
- 高度集成十三种片上仪器，支持多仪器并行模式
- 模块化磁吸设计，开放接口，快速对接自定义传感器/执行器外设
- 支持业界标准C, Python，LabVIEW软件接口，快速二次开发
- 支持RTL片上仪器自定制部署，化云为雨的“雨骤云编译”技术支持
- 基于 “中国芯” 内核选项可选，集成电路级“自主可控”，不卡脖子
其中部分“中国芯”器件由徵格半导体（ZYNALOG）倾情支持！
免费租借平台申请流程
完成雨骤杯报名后，请填写平台租借申请表(表格下载：雨骤杯钉钉群内：60965005624)，提交至邮箱：contact@yuzhou.ai , 邮件主题为“报名编号(CICCXXXX)+第八届集创赛雨骤杯雨珠平台申请”， 待审核后，将会通过官方渠道公布并邮寄设备给参赛团队， 并跟进一系列“动手培训”。
不卡脖子“自主可控”的集成电路测试产教融合解决方案
左右滑动查看解决方案
雨骤科技(恩捷伦®)有限公司是“片上仪器IoC”(Instruments on Chip)技术的全球领导者。为半导体芯片/集成电路，光电，汽车，国防，教育等多行业提供基于芯片全可编程的仪器及测控解决方案。在高等教育领域，为集成电路， 电子信息，光电，自动化，机械，电气，仪科等学科提供高性价比的片上虚拟仪器教学与研究平台。基于 FPGA 的片上仪器技术，致力于将多仪器并行，低时延，高确定性，高可靠性，智能性，灵活性，自适应性注入下一代的测试测量应用。
任何问题，请联系contact@yuzhou.ai
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